למידע נוסף מלאו פרטים
ונחזור אליכם בהקדם
למידע נוסף והזמנות צור קשר
אנליזה והדמיה תרמית למעגלים אלקטרוניים עד לרמת ה DIE |
|||||||||||||||||||||||||||||||||
ככל שמכשירים אלקטרוניים נעשים קטנים יותר, זיהוי חימום יתר
באיזורים מיקרוסקופים נעשה קשה יותר. מצלמות אינפרה אדום מדגמים TIX560/TIX520 בשילוב עדשת 25 מיקרון הינה מערכת אשר מאפשרת רזולוציה מרחבית ורגישות תרמית אשר מזהה איזורים חמים ושינויי טמפרטורה עדינים באיזורים הקטנים מ 25 מיקרון. המידע העשיר שהמצלמה מספקת לגבי תכנון, פיתוח וייצור של רכיבים אלקטרוניים ישפר את האיכות , ימזער את זמן הפצת המוצר לשוק וימנע החזרת המוצר מהלקוח. |
|||||||||||||||||||||||||||||||||
תכונות
TIX560:
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||
עדשת 25 מיקרון: עדשה אשר נותנת רזולוציה רחבה שיכולה להציג הבדלי טמפרטורה על פריטים הקטנים מ 25 מיקרון. גילויים אלה עוזרים לזהות בעיות שלא ניתן לזהותן עם עדשות רגילות. ההבדלים הללו קריטיים כדי לוודא את איכות הפיתוח והייצור של כרטיסי PCB ורכיבים מיקרואלקטרוניים באופן רציף. לעדשה יש יכולת לזהות דפוסים תרמיים שיכולים להצביע על ניתוקים ועל חוסר התאמה בין מעגלים. חריגות תרמיות קבועות על מספר דגימות יכולות להצביע על פגמים בייצור. לכל החומרים והרכיבים יש מפרט אשר מציין בין היתר את טווח הטמפרטורה והלחות בו הרכיב עובד בצורה מיטבית. היכולת ללמוד התנהגות תרמית של הרכיב/חומר יכולה להצביע האם הרכיב/החומר מתנהג כפי שצוין במפרט, היכולת למצוא הבדלי טמפרטורה ברמת רזולוציה של 25 מיקרון יכולה לעזור לך למצוא תקלה פוטנציאלית באותו רכיב במידה ולא יעמוד במפרט הטכני שצוין. בנוסף, היכולת להבין את ההתנהגות התרמית של הרכיבים לאורך זמן יכולה לעזור למהנדסי הפיתוח להחליט על אורך חיי הרכיב ולזהות איזורים שעלולים להוות פוטנציאל לכישלון מוקדם. |
|||||||||||||||||||||||||||||||||
להלן מספר דוגמאות של הדמיות תרמיות: | |||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||
למידע נוסף לחץ כאן |